مقاله ترجمه شده با عنوان بررسی تاثیر طرح چیدمان محلی BTI شامل تاثیر بهبودی بر روی سلول های استاندارد

دسته بندي : مهندسی » مهندسی برق و الکترونیک

دانلود مقاله ترجمه شده با عنوان بررسی تاثیر طرح چیدمان محلی BTI شامل تاثیر بهبودی بر روی سلول های استاندارد مختلف در فین فت 10 نانومتر،

جزئیات بیشتر این محصول:
عنوان انگلیسی مقاله:

Study of Impact of BTI's Local Layout Effect Including Recovery Effect on Various Standard-Cells in 10nm FinFET

عنوان فارسی مقاله:

بررسی تاثیر طرح چیدمان محلی BTI شامل تاثیر بهبودی بر روی سلول های استاندارد مختلف در فین فت 10 نانومتر

فرمت فایل ترجمه شده: pdf
تعداد صفحات فایل ترجمه شده: 12

تعداد صفحات فایل اصلی: 4 - هر صفحه دو ستون با فونت ریز

توضیحات:

این مقاله یکی از موضوعات جدید و بروز در زمینه فین فت 10 نانومتر می باشد و مناسب همه دوره ها: کارشناسی، ارشد و دکتری برق می باشد. ترجمه به صورت کاملاً روان بوده و اصلاً ترجمه ماشینی در آن استفاده نشده است.

تمامی شکل ها و جداول به صورت مرتب و طبق ترتیب مقاله اصلی بوده و می تواند موضوع مقالات دروس مختلف دانشگاهی باشد. این مقاله از سایت معروف و شناخته شده IEEE می باشد که معمولاً تمامی اساتید با این سایت آشنا هستند.

دسته بندی: مهندسی » مهندسی برق و الکترونیک

تعداد مشاهده: 9915 مشاهده

فرمت فایل دانلودی:.rar

فرمت فایل اصلی: pdf

تعداد صفحات: 16

حجم فایل:1,351 کیلوبایت

قیمت: 95,000 تومان
پس از پرداخت، لینک دانلود فایل برای شما نشان داده می شود. پرداخت و دریافت فایل